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| 日立電鏡三維解析方案之Hitachi Map 3D |
日立電鏡三維解析方案之Live Stereoscopic Function |
臺(tái)式電鏡從誕生之日起就以操作方便、體積小巧而區(qū)別于普通電鏡。雖然電鏡作為二維形貌和結(jié)構(gòu)觀察的工具已經(jīng)得到廣泛應(yīng)用，但是科學(xué)家們對(duì)于樣品三維形態(tài)和結(jié)構(gòu)的研究需求也越來(lái)越多。因此，日立臺(tái)式電鏡也順應(yīng)這種需求，為大家?guī)?lái)了獨(dú)特的三維觀察功能。(詳細(xì)內(nèi)容) |
Live Stereoscopic Function是日立專門針對(duì)掃描電鏡三維成像研發(fā)的一款軟件，它可以在無(wú)需傾斜或者旋轉(zhuǎn)樣品的情況下實(shí)現(xiàn)真正的高立體感三維成像，借助3D眼鏡可以進(jìn)行超立體感觀察。 (詳細(xì)內(nèi)容) |
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| 日立電鏡三維解析方案之連續(xù)切片重構(gòu) |
日立電鏡三維解析方案之L型FIB |
掃描電鏡通常只能觀察樣品的表面形貌和成分，如果需要觀察樣品的內(nèi)部細(xì)節(jié)則需要將樣品切開。超薄切片機(jī)可以實(shí)現(xiàn)樣品的多次多層連續(xù)切割，則借助掃描電鏡的觀察功能可以對(duì)樣品的不同區(qū)域進(jìn)行多次觀察，從而獲得樣品的三維形貌。(詳細(xì)內(nèi)容) |
日立最新的L型FIB NX9000具有獨(dú)特的直角設(shè)計(jì)，將FIB和SEM鏡筒互相垂直，可以避免因樣品傾斜帶來(lái)的形變，從而可以實(shí)現(xiàn)高速高精度的三維重構(gòu)。同時(shí)可以配合EBSD實(shí)現(xiàn)三維分析的功能。??(詳細(xì)內(nèi)容)
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| 日立電鏡三維解析方案之電子層析 |
日立電鏡三維解析方案之透射電鏡連續(xù)切片重構(gòu) |
透射電鏡的三維重構(gòu)通常是指Electronic Computed Tomography（電子層析），其原理類似于X射線斷層成像——比如醫(yī)院經(jīng)常使用的CT儀。電子層析通常通過大幅度傾轉(zhuǎn)樣品臺(tái)，從不同的角度拍攝多張同一區(qū)域的投影像，經(jīng)過計(jì)算機(jī)幾何處理將其還原為樣品在三維空間的立體結(jié)構(gòu)（下圖）。(詳細(xì)內(nèi)容)
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掃描電鏡通常只能觀察樣品的表面形貌和成分，如果需要觀察樣品的內(nèi)部細(xì)節(jié)則需要將樣品切開。超薄切片機(jī)可以實(shí)現(xiàn)樣品的多次多層連續(xù)切割，則借助掃描電鏡的觀察功能可以對(duì)樣品的不同區(qū)域進(jìn)行多次觀察，從而獲得樣品的三維形貌。(詳細(xì)內(nèi)容) |
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| 日立電鏡三維解析方案之白光干涉儀 |
日立電鏡三維解析方案之原子力顯微鏡 |
白光干涉儀可以通過光的干涉來(lái)測(cè)量樣品表面的3D形貌，即樣品表面反射的光與參比光相干形成亮暗交替的條紋，這些條紋類似于等高線，從中可以得到樣品的高度信息。相比于其他3D分析方法而言，白光干涉儀可以實(shí)現(xiàn)非接觸、大面積、快速、高精度測(cè)量。(詳細(xì)內(nèi)容)
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原子力顯微鏡是一種直接探測(cè)樣品表面X、Y、Z三個(gè)維度形貌的設(shè)備。不同于光學(xué)或電子光學(xué)顯微方法，原子力顯微鏡使用尖端非常細(xì)微的探針去探測(cè)探針與樣品直接的分子間作用力，通過分子間作用力的大小判斷樣品表面的高低起伏。(詳細(xì)內(nèi)容) |
