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應(yīng)用文章
SU9000在低電壓電子能量損失譜中的應(yīng)用


電子能量損失譜(EELS)作為一種元素分析方法已經(jīng)在透射電鏡中被廣泛使用。但是,傳統(tǒng)的透射電鏡由于電壓過(guò)高,對(duì)于某些材料(如納米材料、弱相位)進(jìn)行EELS分析時(shí)會(huì)產(chǎn)生較大的損傷,或者無(wú)法顯示足夠的襯度,這類材料往往需要低電壓(<30kV)的EELS分析。日立的SU9000既有掃描電鏡的功能,同時(shí)又帶有EELS和電子衍射等透射電鏡的分析功能,很好的填補(bǔ)了透射電鏡在低電壓EELS和電子衍射方面的缺陷。

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