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天美公司&日立高新——球差校正透射電鏡HF5000新品發(fā)布會
時間:2016-10-21 來源:本站 作者: 管理員

日立高新技術(shù)公司最新球差校正透射電子顯微鏡HF5000
2016年10月17日,天美科學(xué)儀器有限公司與日立高新技術(shù)公司聯(lián)合主辦的“球差校正透射電鏡HF5000新品發(fā)布會”在北京北大博雅國際酒店召開。近四十名來自個科研院所、高校的專家學(xué)者出席了本次發(fā)布會。

日立高新北京分公司總經(jīng)理加藤博司先生致辭

天美公司副總裁趙薇女士致辭
中科院理化所公共儀器平臺主任孟祥敏研究員為發(fā)布會致辭。孟祥敏研究員對日立電鏡的品質(zhì)給予了充分的肯定,并表示球差校正透射電鏡是一個日益增長的市場,日立新發(fā)布的球差校正透射電鏡HF5000使研究人員多了一個選擇。同時,他提出球差透射電鏡售后服務(wù)普遍不足的問題,并希望天美和日立在球差電鏡產(chǎn)品上面能為用戶提供更好的服務(wù)。最后,他祝愿日立和天美發(fā)展的越來越好。

中科院理化所公共儀器平臺主任孟祥敏研究員致辭
章效鋒博士自2006年起受聘于日立高新,作為資深透射電鏡專家,參與了HF5000的設(shè)計。本次發(fā)布會中,章博士為大家詳細(xì)介紹了HF5000的技術(shù)特點。該機(jī)型采用新型高穩(wěn)定冷場發(fā)射電子槍,內(nèi)置日立高新的全自動球差校正器,可一鍵操作實現(xiàn)自動球差校正。HF5000具有TEM、STEM、SEM三位一體和電子衍射等多種圖像觀察模式,可同時獲取樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)和表面形貌。HAADF-STEM模式點分辨率可以達(dá)到0.78埃,二次電子像可達(dá)原子級分辨率。HF5000最多可配置兩個無窗EDS探頭,其固體角最大可達(dá)2.0sr,可實現(xiàn)快速、高效高靈敏的元素分析需求。非常適用于繁忙的分析測試中心和設(shè)備平臺。同時章博士介紹了HF5000的應(yīng)用實例,并回答了與會專家提出的問題。
隨后,章效鋒博士介紹了日立原位環(huán)境透射電鏡H-9500 ETEM、HF-3300 ETEM/STEM/SEM(選配球差校正器)。環(huán)境透射電鏡可以通過特制樣品臺施加外場刺激,實時觀察樣品的變化。章博士透露,國內(nèi)H-9500的用戶都在短時間內(nèi)取得了非常好的研究成果。

章效鋒博詳細(xì)介紹了日立最新球差透射電鏡HF5000

西安交大謝德剛博士做了名為“環(huán)境透射電鏡在研究氫與金屬交互作用中的應(yīng)用”的報告
西安交大在2012年6月就與日立高新公司合作成立了西安交大-日立聯(lián)合研發(fā)中心,中心擁有日立H-9500環(huán)境透射電子顯微鏡,日立SU6600可變氣壓場發(fā)射掃描電鏡,單智偉教授任主任。研發(fā)中心副主任解德剛博士受邀參加了本次發(fā)布會,并報告了環(huán)境透射電鏡在研究氫與金屬交互作用中的應(yīng)用,包括氫損傷和與氫脆、熱處理對微納尺度材料力學(xué)行為的影響、納米金屬材料的氣相摧化、鋰電池和鈉電池等原位研究等成果。
會議在和諧的氣氛中進(jìn)行,現(xiàn)場討論熱烈,最后集體與會人員參加了合影。
